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是一种用于测试材料在一定温度环境变化下的电学性能科研仪器,可应用于半导体、光电、集成电路的测试和材料研发。产品采用多组PID控制算法实现精准温控,在低温情况下无电加热补偿,*依靠液氮流量控制实现低温温度控制,避免电加热对样品电学测试信号的干扰。样品台可实现-196~600℃,程序段控温,可实现气氛/真空的环境控制,探针有固定式探针和磁吸式移动探针。
应用说明:
本产品可广泛应用在电学测试、光学测试、材料冶金、霍尔效应测试等众多行业当中。
温控探针冷热台的使用优势有:
1、可独立控温,也可通过上位机软件控制;
2、温度范围广,120℃、400℃、600℃、800℃、1000℃可选;
3、可选择透射光或反射光观察 探针种类丰富,可根据用户需求进行定制 软件拓展性强,可提供LABVIEW等语言的SDK;
4、可编程精密控温。可独立控制,也可从上位机软件控制;
5、探针需开盖移动,样品台面电接地。
产品的注意事项:
1、连接过程保持在不通电源的情况下,最后再倒通电源;
2、注意水泵始终浸没于水中,定期更换水,防止因为循环冷却导致水温过高而影响冷却效果;
3、在调试过程中,用过的石英玻璃片要及时清洗,防止因样品残留而导致的温度调节误差。